网络研讨会：在DUT测量之前使用黄金器件验证校准

演讲者：Stefaan Sercu；在VNA校准过程中，由于测量标准和测量电缆接触不良等原因，校准结果可能并不理想。如何确保校准误差不会影响后续DUT测量，并及时发现校准问题，是业界普遍关注的问题。VNA厂商通常会提供昂贵的验证套件来解决这一问题，但这些工具是否必不可少，是否存在更经济有效的替代方案？此外，即使使用黄金器件进行验证，测量结果也可能与预期值存在偏差，如何判断校准是否合格，何时需要重新校准？本次网络研讨会将深入探讨这些问题。